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Principios de microscopía electrónica de barrido y microanálisis por rayos X característicos
Guillermina González Mancera , María Eugenia Noguez Amaya
El microscopio electrónico de barrido (SEM) por su capacidad para proporcionar información morfológica, topográfica, química, cristalográfica, eléctrica y magnética de muestras másicas, ha contribuido considerablemente al dominio de la Física del estado sólido, de la ciencia de materiales, de la electrónica, de los polímeros, de los textiles, de la Biología, Medicina y cirugía dental, etc.
Book details
- Publisher
- Unam, Facultad de Química
- Publication year
- 2024
- Language
- Spanish
- ISBN
- 9786073080866
- LAN
- 9dd0e4e346bb