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Principios de microscopía electrónica de barrido y microanálisis por rayos X característicos
Guillermina González Mancera , María Eugenia Noguez Amaya
El microscopio electrónico de barrido (SEM) por su capacidad para proporcionar información morfológica, topográfica, química, cristalográfica, eléctrica y magnética de muestras másicas, ha contribuido considerablemente al dominio de la Física del estado sólido, de la ciencia de materiales, de la electrónica, de los polímeros, de los textiles, de la Biología, Medicina y cirugía dental, etc.
Detalles del libro
- Editorial
- Unam, Facultad de Química
- Año de publicación
- 2024
- Idioma
- Español
- ISBN
- 9786073080866
- LAN
- 9dd0e4e346bb
Formato
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